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涂层厚度分析仪VR-XAU是一种先进的X射线荧光 (XRF光谱仪) Analyzer站在该领域的最前沿, 在测量涂层厚度方面提供无与伦比的准确性和可靠性. 您是否在确保保护层的质量, 优化生产流程, 或进行批判性研究, VR-XAU是您不可或缺的合作伙伴. VR-XAU拥有先进的功能,可满足各行各业的广泛应用, 从航空航天到汽车, 从电子产品到贵金属.

优势:

  • 从上到下的光路
  • 定制SI-PIN检测器
  • 无损变焦检测技术, 手动变焦功能
  • 先进的EFP算法和低光对焦技术
  • 先进的频谱分解, 减少相邻元素光谱的干扰, 提高测试精度和检出限.

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